A Survey of Defect Detection Methods based on Computer-Vision [Janghee Lee]

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2010년 2학기 이장희.pdf325.19 KB

2010학년도  2 학기 박사논문제출자격시험 영어발표회를 아래와 같이 개최하오니 많이 참석하여 주시기 바랍니다.

(This presentation is in English, International students can get 1 attendance for Advanced computer seminar.)


이에 연구실에서는 세미나실 사용에 착오 없도록 협조하여 십시오.

-          일시 : 2010  9  10요일 오전  10시 ~

-          장소 : 302  317-2호 (교수회의실)

-          대상자 : 이장희 (지도교수 : 유석인)

-          발표주제 : A Survey of Defect Detection Methods based on Computer-Vision